断层扫描分析技术
METROTOM系统
原本不能检测或者非常耗时的和高成本的工件检测,现在可以用断层扫描分析技术快速明确地检测出误差。
测量范围ØxZ (mm) 300 x 300
测量技术的革命 Metrotom融合了计量学和层析X射线摄影法,开创了不可预期的可能性。此前只能通过损伤工件进行检测或者无法进行质量保证检测的场合,现在使用蔡司的Metrotom就可以帮忙您实现无损检测并保证高精度的测量结果。 断层扫描分析如同在工件内部测量:所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术,例如:装配检查,损伤和气孔分析,材料检验或损坏检查,如同传统的测量评估,逆向工程应用或几何比较一样可行。 重要特征 METROTOM采用了深思熟虑的设计,它的3D计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器,同时还装备了用于装夹工件的转台和移动系统。METROTOM还具有安全技术,其全防护的测量间,符合DIN 54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例(0.5mr/h外罩)。同时,它也提供了符合人体工程学的优化设计(特设的上料位置)。
蔡司转台,配有直接驱动
高敏感性的探测系统
业界验证的线性技术
·蔡司的精密机械组件
·导轨误差补偿(CAA计算机辅助精度修正)
·蔡司原装转台,配有直接驱动
·自产的气浮轴承
·分辨率:0.036˝
·最大负载(中心):500N
传感器:微聚焦X射线管
·高电压:10 – 225 keV
·电子管电流:5 – 3000 μA
·目标功率:320 W max.
·反射角:50°锥角
·速流发射角:30°锥角
·焦点尺寸:> 7 μm平板式探测器
·带有高敏感性的探测系统
·1024 x 1024 像素每 400 μm2用于三维CT
·数字式放射性检测法,低失真率
香港瑞丰科技集团有限公司版权所有 电话:023-67090877 /0887 /0897 技术支持-鼎维重庆网站建设专家